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Title:  車載ICテスト開発(Digital)

Company:  Renesas Electronics Corporation
Country/Region:  JP
State:  東京都
City:  Kodaira City
Department:  Automotive Test Technology Department
Business Unit:  Automotive Solution Business Unit
Office:  JP, Tokyo (Musashi)
Job Function:  Hardware (Digital)
Job Type:  Permanent
Description: 

【背景】

ADASの普及に伴う車載SoCへの市場ニーズの拡大に伴い、競合他社とのコスト競争が激化している。コスト削減の施策として量産テストコスト削減は競合を凌駕する上で重要であり、且つ弊社優位技術(歩留改善、テスト時短)である。

増産予定のR-Car Gen3、更に22年量産予定のGen4に対してこの技術の強化を行う為にテストエンジニアリソースの増強が必要。

 

【職務内容】

車載ICの下記製品テスト業務実施と、外注含めたチームの業務推進しその結果に責任を持つ。
 ・LSI特性検証とテスト仕様設計・検証
 ・LSIテスタを用いたテストプログラム、治工具の開発(出荷選別~量産、製品評価)
 ・量産移行後のテストコスト低減活動(計画立案~実行)
 ・歩留向上手法検討、プロセス欠陥分析と改善策検討
 ・低コストで車載品質を実現に向けた装置・OSATの選定、立上げ


【人材要件①】

[Must]

 ・半導体製品(デジタル、アナログ)の評価 or テスト業務

[Want]

 ・プログラミング(C,C++など)
 ・半導体の信頼性技術

 

【人材要件②必要な語学力】

[英 語]   日常会話ができる TOEIC 500点程度

[日本語] ビジネス会話ができる